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M10127 3D全自动正置金相显微镜

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关键字:3D全自动超景深正置金相显微镜,金相显微镜,景深融合,超景深,全电动XYZ工作台,多分光比观察头,3D图像拼接

 

全新的 M10127系列研究级金相显微镜升级为全电动XYZ工作台机型,配合功能软件,从外观到性能都紧跟设计风向, 致力于拓展工业领域全新格局。配合高质量半复消Semi-APO光学系统,和透反射照明装置,实现明场+暗场+偏光+DIC微分干涉相衬全功能观察方式,XYZ电动平台和软件提供全自动软件功能,融2D/3D高速成像,景深融合,自动对焦等功能于一身,将是您工作中得力的助手!


XY电动控制

通过软件控制电动平台XY方向移动,三种控制方式,既可以手动直接拖动窗口移动平台,也可以双击图像,指哪去哪一键直达


多分光比观察头

M10127 观察头设计有多种分光比选择。采用宽光束成像系统, 可提供 26.5mm 超宽视野。正像三目头使样品的运动方向与观察到的一致。分光比可在 E100:P0 E0:P100 之间切换。倒像三目头, 分光比 E100:P0 E20:P80 E0:P100。除了100%聚光到目镜筒或摄像管外, 还有20%聚光到目镜筒和80%聚光到相机筒的选择, 目镜观察和图像输出可以同时进行。


偏光系统

偏光片和检偏器有助于消除半导体和PCB检测中的杂散光, 可获得清晰细节的图像。有固定分析仪和可旋转分析仪可供选择。可使用 360°可旋转分析仪以不同的偏振角度观察样品。此外, 安装新开发的 DIC 附件后,该偏振系统可以升级为 Nomarski 微分干涉对比系统。


Nomarski 微分干涉对比度 (DIC)

表面上无法在明场中发现的微细凹凸, 可以通过使用 U-DICR 附件来检测, 以创建高对比度背景。适用于LCD的导电粒子、精密磁盘的表面划痕检测

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