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X荧光测厚仪

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天瑞仪器X荧光测厚仪EDX Thick800，一款璀璨登场的全新上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪，犹如科技领域的璀璨明星，不仅完美继承了传统微小与复杂形态样品膜厚检测的精湛技艺，更拓宽了其疆域，涉足有害元素探测与轻元素成分解析的广阔天地。它身披自动化的X/Y/Z三维系统之翼，辅以双激光定位与保护系统的坚固护盾，能灵活穿梭于多点位编程测试的精密网络之中，成为各类产品质量管控、来料检验及生产工艺控制测量的得力助手。

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