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四寸探针测试台实验室probe失效分析半导体测试仪

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在集成电路的研发、生产制造、实效分析过程中,经常要量测内部的电参数,由于制成的越来越低,没有办法用简单的万用表、示波器的表笔来探测信号。手动分析探针台能很好的帮助工程人员实现微小位置的电学参数测试。Advanced在中国推出手动分析探针台近10年历史,销售实绩800多台,并且以每年30多台的销量稳居行业销量榜首。

型号:   PW-400                              
规格:
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm(选项)
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2~4颗
适用领域:4寸Wafer,如晶圆厂、LED、学术单位等

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