Nicomp 380 Z3000 Basic 纳米粒度仪及Zeta电位分

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产品描述

工作原理：

粒度分布：动态光散射仪（Dynamic Light Scattering, DLS）

ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）

检测范围：

粒径范围：0.3nm-10.0μm

ZETA电位： +/- 500mV

Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。

技术优势

1、PMT高灵敏度检测器；

2、可搭配不同功率光源；

3、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；

4、钯电极；

5、精确度高，最接近样品真实值；

6、复合型算法：高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换

7、快速检测，可以追溯历史数据；

8、结果数据以多种形式和格式呈现；

9、符合USP,CP等个多药典要求；

10、无需校准；

11、复合型算法：